。
答： （1）SOF4+SO2F2 的体积分数对时间曲线变化斜率。
单电压、同步升流升压下，中心导杆尖端放电时，SO2F2 +
SOF4 的体积分数对时间曲线变化斜率均值分别为0.2、0.22；
同时，DPD检测到的该缺陷下，单电压时SO2+SOF2 的体积分
数对时间曲线变化斜率为0.13；而同步升流升压时则因气室中
放入分子筛，DPD检出为0。
（2）SOF4+SO2F2 的体积变化速率 （绝对产气率）。单电压、
同步升流升压下，中心导体尖端放电时，SOF4+SO2F2 的β值分
别为29.3～58.7μL/h和28.3～85.2μL/h，尖端位于筒壁时，其
各项指标均明显低于中心导杆，其SO2F2 的平均值为7.7μL/h。
712电力设备用SF6 气体技术问答
（3）金属颗粒物模拟试验中，SOF4+SO2F2 的体积分数对
时间曲线变化斜率与绝对产气率均明显低于尖端放电，β值分别
为0.0014、0.57μL/h；模拟试验中水分超标、绝缘盆子缺陷、
棉手套滞留依序递减。换言之，SF6 电气设备内水分超标、绝缘
盆子缺陷、棉手套滞留等绝缘缺陷在短期内较难通过 SF6 气体
放电分解产物分析诊断，其中长期影响有待进一步试验，但一
旦造成SF6 气室内部放电，从理论上讲用 SOF4+SO2F2 检测依
然有效。
（4）考虑放电分解产物的增量与气室体积有较大的相关性，
为此对SF6 电气设备的故障诊断的指标可以从体积分数时间曲
线斜率、SOF4+SO2F2 绝对产气率及 SOF4+SO2F2、SOF2+
SO2 体积分数限值几个方面进行诊断。
（5）通过SF6 新气的品质比对不难看出，SF6 气体品质对
SOF4+SO2F2 产生有较大的影响，特别是在导杆尖端放电下，
低品质SF6 气体与高品质 SF6 气体相比，SOF4+SO2F2 的绝对
产气率平均提高了3倍，低品质 SF6 气体与高品质 SF6 气体相
比，SO2+SOF2 体积分数提高了1倍多。这种影响是由于 SF6
气体中如碳氟硫化物等杂质的存在，使得其在同样放电能量下
分解转化成SOF4+SO2F2、SO2+SOF2；由于 SF6 气体杂质体
积分数的增加，引起 SF6 气体绝缘强度下降进而导致放电能量
增加，最终使得 SOF4、SO2F2、SO2、SOF2 增加，还有待在能
量可测的尖端放电模拟试验中进一步验证。
四种方式的比对试验结果说明，含有较高体积分数的全氟
烷烃、碳硫氟化物、氟化硫酰杂质的 SF6 新气，较不含或含有
少量上述杂质的 SF6 新气，在设备内存在内部缺陷时，放电分
解产物SOF4、SO2F2、SO2、SOF2 增速大大提高，鉴于 SOF4、
SO2F2、SO2、SOF2 的化学腐蚀特性，证明含有较高体积分数
的全氟烷烃、碳硫氟化物、氟化硫酰杂质的 SF6 气体最终会影
响SF6 电气设备的寿命，尤其是开断设备。
812第7章 SF6 电气设备故障分析实例及新技术
（6）试验同时发现，SF6 电气设备内 （SOF4+SO2F2）体积
分数≤47.1×10—6，有可能是SF6 绝缘气体绝缘性能的临界值，
在双电源同步升流升压低品气尖端放电模拟试验结束后，更换
该气室内SF6 气体，准备进行高品质 SF6 气体尖端放电模拟试
验时，发现耐压无法通过，经解体后发现绝缘盆子上有一爬电
痕迹，从中心贯穿至盆子边缘，GCMS检测到的 SOF4+SO2F2
体积分数为47×10—6。