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正(伪)增益现象是如何产生的?
2019-01-11
信息编号:611906
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正增益是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多
的后向散光而形成的。事实上,光纤在这一熔接点上是熔接损耗的。
常出现在不同模场直径或不同后向散射系数的光纤的熔接过程中,因
此,需要在两个方向测量并对结果取平均值作为该熔接损耗。
什么是正(伪)增益现象?
正(伪)增益现象是指在OTDR的背向散射曲线上有时会出现上升台阶。...
01-11
为什么微弯会有较大损耗?
如果弯曲半径太小,会造成弯曲部位发生光泄漏,造成光能量损失,所以会有较大损耗。可以使用“红光光源”验证。...
01-11
为什么要采用双波长测试?其原理和方法是什么?
因为波长越大对微弯越敏感,也就是波长越大插入损耗值越大。所以根据该原理,比较在两个波长上的测试结果,如果插入损耗值相电力通信实用技术问答差过大,可以判断为弯曲。...
01-11
什么是 OTDR 测量中的“鬼影现象” ?
所谓“鬼影”就是与事实不符的影像,通常在短链路测量时出现较多。常见的“鬼影”是由于连接器连续反射造成。有时原因较为复杂。...
01-11
OTDR 的距离测量精度与哪些因素有关?
(1)采样间隔:OTDR对反射信号按一定间隔进行采样(数字化),然后再将这些分离的采样点边接起来形成最后显示的测量曲线。如果将下方框中的各采样点之间用直线连接起来就可以在OTDR上应显示出的测量曲线。...
01-11
为什么用户要对脉冲宽度进行选择?
一个窄脉冲带来的是较小的盲区,使得光纤中距离较近的两个机械接头被分辨出来,但是由于窄脉冲使得OTDR的动态范围过小,这样对光纤尾部的观测就不够清晰。选择宽脉冲时OTDR的动态范围足够大使得我们可...
01-11
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什么影响“盲区” ?
动态范围和“盲区”对 OTDR 测量都起到什么样的影响?