集成度(DRAM) 64K 256K 1M 4M 16M 64M
危险颗粒尺寸/μm 0.5 0.2 0.2 0.1 0.06 0.06
控制颗粒数(>0.5μm)/(个/mL) 500 100 40 15 1 0.2
金属杂质 100×10-9 10×10-9 4×10-9 1×10-9 0.1×10-9 0.05×10-9
(2)光刻胶
光刻胶用做抗蚀涂层,是 完 成 光 刻 工 序 的 关 键 材 料。从 表13 可 以 看 出 微 细 加 工 的 发
展,对其光刻胶提出更高要求。
表13 微细加工的发展
集成度(DRAM) 64K 256K 1M 4M 16M 64M
光刻胶 负胶或正胶 g线正胶 g线正胶 g线或i线正胶 i线正胶 i线正胶
负胶主要用聚异戊二烯原料胶经环化后,加入双叠氮化合物交联剂和溶剂组成。正胶以
线性酚醛树脂、感光剂和溶剂组成。为了提高分辨率,目前已有80%市场转向使用正胶。
6 新型电子化学品生产技术与配方