（1）使用指针万用表的判断方法
根据ＰＮ结原理，可控硅三个极之间的电阻值，可用欧姆挡 “犚×１０”或
“犚×１００”挡测量来判别好坏。可控硅的控制极 Ｇ与阴极 Ｋ之间是一个ＰＮ结，
在正常情况下，它的正向电阻在几十欧到几百欧之间，一般反向电阻比正向电阻
要大。有时测得控制极反向电阻较小，不一定说明控制极特性差，主要应看其是
否符合ＰＮ结的特点。
（2）使用数字万用表的判断方法
① 判断可控硅的电极 数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑
表笔分别接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表
笔接的是控制极Ｇ，黑表笔接的是阴极 Ｋ，余下的则是阳极Ａ。假如两次都显示
溢出，说明红表笔接的不是控制极，需更换电极重测。
② 测试可控硅的触发能力 数字万用表拨至ＰＮＰ挡，此时犺ＦＥ插口上的两
个Ｅ孔带正电，Ｃ孔带负电，电压为２．８Ｖ。可控硅的三个电极各用一根导线引
出，阳极 Ａ、阴极 Ｋ引线分别插入Ｅ孔和Ｃ孔，控制极 Ｇ悬空。此时可控硅关
断，阳极电流为零，将显示０００。
 测试可控
硅的触发能力
按图１０２９把控制极Ｇ插入另一个Ｅ孔。显示值将从０００开始迅速增加，直
到显示溢出符号后，立即又变成０００，然后再次从０００变到溢出，这样周而复
始。采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。但这样
的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。必要时
也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。
如果使用 ＮＰＮ挡，可控硅阳极 Ａ 应接 Ｃ孔，阴
极Ｋ接Ｅ孔，以保证所加的是正向电压。检查触发能
力时，控制极不要插入Ｂ孔，因Ｂ孔的电压较低，可
控硅无法导通。