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    说明气相色谱、气相色谱质谱普查与结果分析
    2024-04-25 信息编号:1344915 收藏

答:为了进一步验证气相色谱、气相色谱质谱分析方法的
实用性,应用该方法对 220kV 及部分 110kV SF6 电气设备共
1384个气室及部分SF6 新气进行了普查与抽检,普查及抽检结
果如下:
(1)发现进口的 ABB、MG间隔 SF6 GIS内 SF6 气体纯度
高,基本不含 C3F8、C4F10、C5F10等氟烷烃及 S2F10O、CF8S、
SF5OSO2F、SO2F2 等碳氟硫化合物和氟硫化物;2005年后投运
的国内电气设备,其气室内 SF6 气体品质较差,且气室内含有
较多的 C3F8、C4F10、C5F10、C6F12等氟烷烃及 S2F10O、CF8S、
SF5OSO2F、SO2F2 等碳氟硫化合物和氟硫化物。
(2)1384个气室中SOF4+SO2F2 体积分数大于1×10—6的
共23个;SOF4+SO2F2 体积分数大于2×10—6的共10个,这
10个气室中投运15年左右的开关气室有7个,新投运建设项目
气室有1个,缺陷气室处理后有2个。
(3)故障后气室中存在体积分数较高的放电分解产物,如
H2S、COS、CS2、SO2、SO2F2 等化学稳定性和酸性均较高的
硫化物;潜在故障气室未检出 H2S,SOF4+SO2F2 体积分数为
0.05×10—6~3×10—6。
(4)SF6 新气抽检中也发现了 SOF4+SO2F2,体积分数为
0.05×10—6~3×10—6,新气中未检出SO2、SOF2。
  • SF6 气体杂质与潜伏性故障诊断小结
    。答:(1)SOF4+SO2F2的体积分数对时间曲线变化斜率。单电压、同步升流升压下,中心导杆尖端放电时,SO2F2+SOF4的体积分数对时间曲线变化斜率均值分别为0.2、0.22;同时,DPD检测到的该缺陷下,单电压时SO2+SOF...
    04-25
  • 双电源同步升流升压带电方式下放电分解产物增量分析 如何?
    答:将双电源同步升流升压下低品质中心导杆尖端放电、高品质中心导杆尖端放电、金属铝颗粒共三种模拟方式下放电分解产物斜率及SO2F2+SOF4体积分数变化速率汇总,见表7-22。512电力设备用SF6气体技术...
    04-25
  • 单电压带电方式下放电分解产物增量分析如何?
    答:将单电压下低品质中心导杆尖端放电、高品质中心导杆尖端放电、筒壁尖端放电、金属铝颗粒、水分的体积分数(5000×10—6)、绝缘盆子缺陷、非金属物棉手套滞留共7种模拟方式下,放电分解产物斜率及SO...
    04-25
  • 模拟试验的理论依据是什么?
    答:无论是电晕、火花还是电弧放电,都必然会产生一定的能量释放,使SF6气体发生分解反应,生成SF4、SF3、SF2和S2F10等多种低氟硫化物。分解主要产物有SF4、SOF2、SO2F、SOF4、SO2F2、HF、SO2,而SOF2、SO...
    04-25
  • 220kV内部缺陷模拟试验结果如何?
    答:模拟试验其试验装置在单电压(200~252kV)下,分别模拟了7种内部缺陷,考虑到单电压与实际运行工况的差异,特选取3种方式进行了双电源同步升流升压比对性试验。所有模拟试验除绝缘盆子缺陷(130kV通过,150kV...
    04-25
  • .实际应用的SF6 气体痕量杂质分析仪器有哪些?
    答:气相色谱质谱联用仪,如岛津2010PLUS气相色谱质谱联用仪,GSGas-Pro毛细管柱(长30m,内径0.32mm);承载气体为He;相对协调电压0.0;电离方式为电轰击电离(EI),70eV能量;SCAN定性分析,SIM定量分析;扫描间隔时间0.2s...
    04-25