光纤事件点损耗包括光纤本征因素引起的和外界因素引起的两部
分。外界因素主要有轴线错位、轴向倾斜、纵向分离（如活动接头）
和纤芯变形（熔接头）等，事件点上的因外界因素导致的损耗无论从
哪个方向上测试应当是一样的。那么导致正（伪）增益的主要原因是
光纤的本征因素，而本征因素中影响最大的当属模场直径。