ＴＴＬ 是 ＴｒａｎｓｉｓｔｏｒＴｒａｎｓｉｓｔｏｒＬｏｇｉｃ的缩写，称为晶体管晶体管逻辑。
集成电路的检测要比分立元件困难，但只要按下述方法检测，还是能很 快 查 出 故 障 原
因的。
① 首先要熟悉集成电路的内部结构原理。然后采用由后向前逐级检查的方法，分析其
故障产生的原因。表１１７列出了用万用表检查 ＴＴＬ 集成电路的数据，供测量时参考。表中
数据是用５００型万用表Ｒ×１ｋΩ 挡测量的，它是用万用表判别 ＴＴＬ 集成电路好坏的一种实
用方法。
② 电压测量判断法。对有可疑的集成电路，测量其引脚电压，将测量的结果与已知道
或经验数据进行比较，进而判断出故障范围。
③ 信号检查法。利用示波器及信号源，检查电路各级的输入和输出信号。对于数字集
成电路，主要是通过信号来查清它们的逻辑关系。对集成运算放大器来说，需要弄清其放大
特性。可疑级一般发生在正常与不正常信号电压的两测试点之间的那一级。
１３２表１１７ 用万用表测 ＴＴＬ的数据
测量项目 正常值 不正常值 万用表接法 备注
输入输出各端对电源地端 ５ｋΩ ＜１ｋΩ 或＞１２ｋΩ
正电源端对电源地端 ３ｋΩ ≈０或≈∞
输入输出各端对电源地端 ＞４０ｋΩ ＜１ｋΩ
正电源端对电源地端 ３ｋΩ ≈０或≈∞
黑表 棒 接 地 端，红 表
棒接其他各端
红表 棒 接 地 端，黑 表
棒接其他各端
用５００型万用表Ｒ×
１ｋΩ 挡。用其他万用
表会略有出入
④ 对有可疑的集成电路，判断是否存在故障的最快办法，是采用同型号的、完好的集
成电路做替代试验。